Az XJL-302DIC nagyméretű pozitív differenciális interferenciás fázisú bérleti mikroszkóp az átláthatatlan tárgyak felületi formájának reflektív differenciális interferenciás fázisú bérleti megfigyelésére, valamint az átlátszó tárgyak perspektív mikroszkópi megfigyelésére alkalmas. Kiváló végtelen távolsági optikai rendszer és moduláris funkció tervezési koncepció segítségével könnyű a rendszer frissítése, a polarizációs megfigyelés, a differenciális interferencia fázis megfigyelés és egyéb funkciók megvalósítása, a kompakt, stabil, magas merevségű test teljes mértékben tükrözi a mikroműveletek rezgés elleni követelményeit. Az ergonómiai követelményeknek megfelelő ideális tervezés a kényelmesebb és kényelmesebb műveletet és a szélesebb teret teszi lehetővé. A metallológiai szövetek és felületi formák mikromegfigyelésére alkalmas, ideális eszköz a metallológiai, ásványológiai és precíziós mérnöki kutatásokhoz.