A távoli VNF-200 VCSEL közelmező elemző kifejezetten a VCSEL felületi közelmező elemzésére készült, amely gyors mérési sebességgel, magas optikai felbontással és nagy mérési pontossággal rendelkezik. A műszer mikrooptikai rendszerek és képalkotó rendszerek kombinációját alkalmazza, és a VCSEL jellemzőinek megfelelően optimalizált tervezést tesz lehetővé a VCSEL nagy nagyítású mikroképalkotó sugárzási elemzését. A VCSEL felületének kétidimenziós sorrendjét, a rossz pontok észlelését és a fényesség adatait egyszeri méréssel kapja meg, ugyanakkor egy pontméretet is. A szabványoknak megfelelő vizsgálati jelentések kimeneteléhez speciális elemző szoftverekkel rendelkezik. Gyors és pontos elemzés a VCSEL felületi jellemzőinek gyártósorokban és laboratóriumokban.