Mérje a célmembrán ** tükröződési képességét, nagy pontossággal mérje a membrán vastagságát és az optikai állandókat! érintésmentes · nem pusztító · mikroskopikus

A mérési idő csak 1 másodperc!

Az OPTM sorozat mikrospektrospektrométerei kis területeken ** reflexiós méréssel lehetővé teszik a nagy pontosságú membránvastagság/optikai állandó elemzését. A bevonatok vastagságának mérése nem pusztító és érintkezés nélküli módon, például különböző membránok, chipek, optikai anyagok és többrétegű membránok. 1 másodperc/pont mérési sebességgel rendelkezik, és olyan szoftverrel rendelkezik, amely lehetővé teszi az első felhasználó számára az optikai állandók elemzését

Termékek jellemzői:

• A fej integrálja a vékonyfilmvastagság méréséhez szükséges funkciókat

• Nagy pontosságú mikrospektroskopiai mérés** (többrétegű membránvastagság, optikai állandó)

• 1:1 másodperc nagy sebességű mérés

• Széles spektrális optikai rendszer (UV*** közeli infravörös)

• A régiós érzékelők biztonsági mechanizmusa

• Könnyű elemzési varázsló, amely a kezdők számára is lehetővé teszi az optikai állandó elemzését

• Független mérőfej a különböző inline testreszabási igényeknek

• Támogatja a különböző testreszabások

Mérési elemek:

• ** Reflekciós mérés

• Többrétegű membrán elemzés

• Optikai állandó elemzés (n: törési arány, k: fénycsökkentési tényező)

Alkalmazás:

• Félvezető: Automatikus beállítás a fényképes minták, fényképes hajlítás észlelése

• Optikai alkatrészek: a lencse sugárzásának, hajlításának stb. észlelése

Termékspecifikációk：